入力放射線粒子ごとにSRAM複数ビットソフトエラーを正確に観測するシステムの開発

概要

半導体集積回路において，宇宙放射線によるメモリの一時的なビット反転であるソフトエラーが生じる．特に複数ビット反転（MCU）によって誤り訂正が機能しない場合がある．一般的なソフトエラー観測手法では空間情報のみからMCUを推定するため，遠隔位置でビット反転が生じるDistant MCUが識別困難である．本研究では，放射線検出器と専用SRAMチップを組み合わせたシステムを開発し，1粒子ごとに時間分割したソフトエラーデータを取得可能とした．東北大RARiSでの陽子照射実験により，ソフトエラー中に約5%のDistant MCUが存在することを実証し，その発生パターンを明らかにした．

研究者

氏名	コース	研究室	役職/学年
五味唯美	通信情報システムコース	橋本研究室	博士2回生